電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法

電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。 

    *種方法是“試驗——問(wèn)題記錄——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗發(fā)現問(wèn)題時(shí)，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問(wèn)題記錄下來(lái)，待在一個(gè)試驗階段結束以及下一個(gè)階段開(kāi)始之前，根據各種失效模式的失效機理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗。采用這種試驗法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗法，比較適用于一批試驗機中，出現幾個(gè)問(wèn)題，其中一種問(wèn)題是占主要地位而其余問(wèn)題是次要的情況。 

    第二種方法是“試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn)，然后再試驗證實(shí)所解決的問(wèn)題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(cháng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過(guò)系統試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節之后，根據具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(cháng)，這種方法比較適用于試驗中只出現一種比較普遍和嚴重問(wèn)題的情況，針對性較強。 

    第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。該方法是將方法一和方法二結合起來(lái)，通過(guò)試驗發(fā)現了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗中了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗中立即著(zhù)手進(jìn)行，有些延緩到試驗結束后再作改進(jìn)。在試驗中，對能及時(shí)改進(jìn)的問(wèn)題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗階段結束后，把延緩的問(wèn)題至下次試驗開(kāi)始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(cháng)。這種方法比較適合于試驗中出現幾種問(wèn)題，并且一些問(wèn)題能短期容易改進(jìn)的，另一些問(wèn)題卻需要相當一段時(shí)間才能改進(jìn)的綜合情況。 

    對于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過(guò)系統的試驗，要根據暴露出的問(wèn)題作具體分析，靈活應用?？煽啃栽囼炛谐Ｓ玫娜N方法往往是周而復始地循環(huán)，并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(cháng)，另外可靠性試驗除通過(guò)系統試驗外，還應根據具體情況通過(guò)氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設計研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。 

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